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克-哈特曼(Shack-Hartmann ...
又称“哈特曼-夏克传感器(Hartmann-Shack sensor)”。一种由微透镜阵列和高速CCD组成的测量光波波前分布的传感器。 ...
190-400nm高分辨紫外波前传感器助力半导体行业发展!摘要:本文介绍了紫外波前传感器在半导体检测中的应用。详细阐述了其在晶圆检测、芯片检测、封装检测以及光学元件检测中的具体应用。指出紫外波前传感器能够提供高精度的检测数据,帮助工程师及时发现问题并进行修复,从而提高产品质量和生产效率。上海昊量光电设备有限公司推出全新一代高分辨率紫外波前传感器,探测波段覆盖190-400nm。该高分辨率紫外波前传感器具有可测试汇聚光斑,高动态范围,大通光面(13.3mm x13.3mm),高分辨率(512x512),消色差,震动不敏感等特点。半导体技术在现代社会中扮演着越来越重要的角色。随着半导体器件尺寸的减 ...
像差,这是 Shack-Hartmann 波前传感器 (SHWFS) 所允许的,主要用于自适应光学。波前传感器 (WFS) 的主要功能是对给定平面中的相位进行采样,该平面通常对应于放置传感器的平面:与数字全息术不同,无需使用参考臂。当然,可以将 WFS 平面与给定的物平面光学共轭。对于相位显微镜,放置在物平面中的样品引入的相移可以由 WFS 直接测量,允许定量相移成像,其中 WFS 分辨率和测量点数现在成为目前排除使用的关键因素Shack-Hartmann 传感器,分辨率有限。已经提出了数字波前传感 (DWFS),它依赖于观察强度图像随小散焦而变化的方式,并使用这些强度变化来恢复相位。 该方法 ...
这项技术克服Shack-Hartmann传感器的局限性,从而可以获得超高分辨率、高灵敏度(亚纳米)和宽动态范围。近期法国PHASICS公司从法国商务部获悉,公司提交申请的高精度红外(3-5um &8-14um)/近红外(900-1700nm)波前传感器出口豁免申请已获得通过。这就意味着客户采购SID4-DWIR红外(3-5um &8-14um)和SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器时无需再提供最终用户备案。下面我们将为大家详细的介绍下这几款波前分析仪:1.SID4-SWIR近红外(900-1700nm)波前传感器图1SID4-SWIR波前分析仪SID4-S ...
HASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时,是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器,局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似,误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高,波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难,需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点(多个微透镜)PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA:0.5NA:0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率 ...
形镜,高精度Shack-Hartmann哈特曼波前传感器以及Alpao的自适应光学系统控制软件,其适用于天文自适应光学望远镜、自由空间激光通信、多光子荧光显微镜等方面的应用。 核心优势:1.高速闭环自适应系统控制软件 •Alpao标准版闭环自适应光学系统控制软件基于Matlab编程环境,其开放式、模块化架构支持用户快速高效地将Alpao自适应系统集成到相关应用系统。同时,凭借Alpao的闭环自适应光学系统控制算法,可支持高达时延小于1ms, 800Hz的闭环带宽。 •为了满足特殊应用的需求,Alpao的超高速版本闭环自适应光学系统控制软件可支持高达2kHz,时延<200μs的闭环带宽。其 ...
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